Hlavní stranaKnihy

X-ray Spectrometry: Recent Technological Advances

 

Autoři: K. Tsuji, J. Injuk, R. van Grieken
Vydavatelství: John Wiley & Sons, Ltd.
Vydáno: 2004
The book covers the latest developments and areas of research in the methodological and instrumental aspects of x-ray spectrometry.

Odkazy:

OPPI, MPO, EU

CEBIO a I. etapa JVTP

  • CEBIO
  • BC AV CR
  • Budvar
  • CAVD
  • CZBA
  • Eco Tend
  • Envisan Gem
  • Gentrend
  • JAIP
  • Jihočeská univerzita
  • Madeta
  • Forestina
  • ALIDEA

Provozovatel

Jihočeská agentura pro podporu inovačního podnikání o.p.s.

Články na přání


[načítám anketu]

LinkedIn