Hlavní stranaKnihy

X-ray Spectrometry: Recent Technological Advances

 

Autoři: K. Tsuji, J. Injuk, R. van Grieken
Vydavatelství: John Wiley & Sons, Ltd.
Vydáno: 2004
The book covers the latest developments and areas of research in the methodological and instrumental aspects of x-ray spectrometry.

Odkazy:


LinkedIn