Rychlé chromatografické metody pro mnoho analytů v různých matricích: Trend v analýze potravin a životního prostředí

Prague, Czech Republic (February 11, 2010)

Odbornym garantem seminare je prof. Ing. Jana Hajslova, CSc., VSCHT Praha.

Seminar spolecnosti Sigma-Aldrich spol.s r.o. je poradan ve spolupraci s prof. Ing. Janou Hajslovou, CSc. jejimi spolupracovníky a dalsimi odborniky z praxe.

Program:

8:00-8:45 Registrace účastníků8:45-9:00D. Procházková, Sigma-Aldrich, PrahaZahájení semináře9:00-10:00J. Hajšlová, VŠCHT PrahaNetradiční pojetí analýzy organických kontaminantů:multimetody pro praxi10:00-10:30V. Kocourek, P. Dohnal , J. Hajšlová, R. Aulický,V. Stejskal, VŠCHT PrahaSledování biocidů v ovzduší po jejich aplikaci v uzavřených prostorách10:30-11:00 Přestávka s občerstvením11:00-11:30M. de Voer, Sigma-AldrichFast HPLC: How can a HPLC method be speeded up?11:30-12:00K. Benešová, S. Běláková, Z. Svoboda, R. Mikulíková VÚPS BrnoAnalýza zdraví prospěšných látek v pivovarských surovinách pomocí kapalinové chromatografie12:00-12:20V. Bartáčková, O. Lacina, K. Valenzová, L. Václavík, K. Riddellová, J. Hajšlová, VŠCHT PrahaAkrylamid v tepelně zpracovaných potravinách - stále aktuální téma12:20-12:40O. Lacina, J. Urbanová, J. Poustka, J. Hajšlová, VŠCHT PrahaOptimalizace nástřiku při HPLC analýze sloučenin s širokým rozmezím polarit12:40-13:00 Přestávka s občerstvením13:00-13:20K. Riddellová, M. Černá, T. Čajka, L. Václavík,J. Hajšlová, VŠCHT PrahaVyužití SPME při hodnocení kvality lihu a destilátů13:20-13:40M. Sekyra, J. Leníček, ZÚ se sídlem v Ústí nad LabemNásobná mikroextrakce na tuhou fázi jako technika eliminující vliv matrice13:40-14:10T. Čajka, K. Riddellová, J. Hajšlová, VŠCHT PrahaStrategie autentikace medu: využití moderních instrumentálních technik14:10-14:30J. Pulkrabová, J. Hajšlová, VŠCHT PrahaMožnosti GC analýzy perfluoralkylovaných kontaminantů14:30-14:50L. Václavík1, O. Lacina1, J. Zweigenbaum2,J. Hajšlová11 VŠCHT Praha,2Agilent Technologies,Wilmington, DE, USAAutentikace vína na základě metabolomických profilů získaných technikou LC-Q TOF MS

Více: http://www.sigmaaldrich.com/czech-republic/semin-225-345-e/seminare-20